Os especialistas participaram, em Brasília, de método de definição de padrões de desempenho dos docentes e recém-formados em 17 áreas de licenciatura
O Instituto Nacional de Estudos e Pesquisas Educacionais Anísio Teixeira (Inep) reuniu, de 24 a 28 de novembro, em Brasília (DF), 400 professores de todo o país. São docentes da educação básica e de universidade atuantes em 17 áreas de licenciaturas, selecionados para participar de um método de definição dos padrões de desempenho do Exame Nacional de Desempenho de Estudantes (Enade) das Licenciaturas e da Prova Nacional Docente (PND).
Divididos em 34 salas, os especialistas atuaram como júris. Tinham como objetivo avaliar a probabilidade de os candidatos acertarem os itens do exame, a partir dos níveis de desempenho pré-estabelecidos por matrizes de referência que definem os conteúdos, habilidades e competências a serem avaliados no Enade e na PND.
A mediadora Márcia Zendron, 58 anos, veio de Marília (SP) para auxiliar o grupo de docentes da educação física no processo de validação e redimensionamento dos níveis cognitivos das questões da área na 1ª edição da PND. “Vamos especificar e caracterizar os níveis de conhecimento desses alunos, ou seja, o que eles entendem e como estão sendo formados”, explica.
Já a painelista Mariana Teixeira, 34 anos, professora de sociologia do ensino médio na cidade de Samambaia (DF), destacou o emprego do Método Angoff: “Calibramos as questões dentro de um perfil que consideramos adequado para estudantes que estão concluindo o ensino superior.” Ela atuou representando a área de ciências sociais.
Método Angoff – Trata-se de metodologia de definição, realizada pelo Inep, para estimar, em múltiplas rodadas de avaliação, a porcentagem de acerto de cada item da prova, tendo como parâmetro o perfil de um docente recém-graduado no Brasil. O trabalho auxilia na qualificação da educação no país a partir de critérios estabelecidos para a compreensão da proficiência dos alunos em cada uma das áreas avaliadas.
Fonte: Assessoria de Comunicação Social do Inep
Foto de capa: INEP Divulgação
